определяет возможные направления возникновения максимумов интенсивности упруго рассеянного на кристалле рентг. излучения при дифракции рентгеновских лучей. Установлено в 1913 независимо друг от друга англ. физиком У. Л. Брэггом (W. L. Bragg) и рус. учёным Г. В. Вульфом. Если кристалл рассматривать как совокупность параллельных ат. плоскостей, отстоящих друг от друга на расстоянии d (рис.), то дифракцию излучения можно представить как отражение его от системы таких плоскостей.
Максимумы интенсивности (дифракционные максимумы) возникают при этом только в тех направлениях, в к-рых все отражённые ат. плоскостями волны находятся в одной фазе, т. е. под такими углами 2q к направлению первичного луча, для к-рых выполняется Б.- В. у.: разность хода между двумя лучами, отражёнными от соседних плоскостей, равная 2dsinq, должна быть кратной целому числу длин волн l:
2dsinq=ml
(т - целое положит. число, наз. порядком отражения). Б.- В. у. может быть получено из более общих условий дифракции излучения на трёхмерной решётке.
Б.-В. у. позволяет определить межплоскостные расстояния d в кристалле, поскольку l обычно известна, а угол q (наз. брэгговским углом) можно измерить экспериментально. Оно применяется в рентгеновском структурном анализе, рентгенографии материалов, рентгеновской топографии. Б.- В. у. остаётся справедливым при дифракции g-излучения, эл-нов и нейтронов (см. ДИФРАКЦИЯ МИКРОЧАСТИЦ), при дифракции в периодич. структурах эл.-магн. излучения радио- и оптического диапазонов, а также звука.
В закладки будет добавлено толкование к данному слову в данном словаре. Закладки сохраняются на Вашем компьютере в cookie. Если Ваш браузер не поддерживает cookie или такая возможность отключена, то сохранение закладок будет не возможно.
Максимумы интенсивности (дифракционные максимумы) возникают при этом только в тех направлениях, в к-рых все отражённые ат. плоскостями волны находятся в одной фазе, т. е. под такими углами 2q к направлению первичного луча, для к-рых выполняется Б.- В. у.: разность хода между двумя лучами, отражёнными от соседних плоскостей, равная 2dsinq, должна быть кратной целому числу длин волн l:2dsinq=ml(т - целое положит. число, наз. порядком отражения). Б.- В. у. может быть получено из более общих условий дифракции излучения на трёхмерной решётке.Б.-В. у. позволяет определить межплоскостные расстояния d в кристалле, поскольку l обычно известна, а угол q (наз. брэгговским углом) можно измерить экспериментально. Оно применяется в рентгеновском структурном анализе, рентгенографии материалов, рентгеновской топографии. Б.- В. у. остаётся справедливым при дифракции g-излучения, эл-нов и нейтронов (см. ДИФРАКЦИЯ МИКРОЧАСТИЦ), при дифракции в периодич. структурах эл.-магн. излучения радио- и оптического диапазонов, а также звука.