метод исследования монокристаллов с помощью дифракции рентгеновских лучей. Представляет собой усовершенствованную методику опыта, поставленного (в 1912) в Германии В. Фридрихом (W. Friedrich) и П. Книппингом (Р. К nipping) по предложению М. Лауэ (М. Laue), в к-ром была впервые обнаружена дифракция рентг. излучения на кристалле. В Л. м. тонкий пучок рентг. излучения непрерывного спектра падает на неподвижный монокристалл, закреплённый обычно на гониометрич. головке (см. РЕНТГЕНОВСКИЙ ГОНИОМЕТР).
Схема метода Лауэ. SO - первичный пучок; К - кристалл; ММ' - направление кристаллографич. плоскости, находящейся в отражающем положении; KL - отражённый луч; РР' - фотоплёнка.
Излучение, рассеянное кристаллом в направлениях, определяемых Брэгга - Вульфа условием, регистрируется на плоской фотоплёнке, помещённой за кристаллом перпендикулярно падающему излучению (рис.). В случае крупных монокристаллов фотоплёнка располагается перед кристаллом, а лауэграмма, полученная таким способом, наз. эпиграммой.
Л. м. применяется для пространств. ориентации монокристаллов, в особенности неогранённых (см. РЕНТГЕНОВСКИЙ СТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ), исследования совершенства внутр. строения монокристалла (см. РЕНТГЕНОВСКАЯ ТОПОГРАФИЯ), фононных спектров, процессов распада, старения и перестройки крист. структуры (напр., под действием темп-ры, облучения нейтронами или gm-излучением и т. д.; (см. РЕНТГЕНОГРАФИЯ МАТЕРИАЛОВ) и неупругих когерентных процессов.
В закладки будет добавлено толкование к данному слову в данном словаре. Закладки сохраняются на Вашем компьютере в cookie. Если Ваш браузер не поддерживает cookie или такая возможность отключена, то сохранение закладок будет не возможно.